MEMS光纤挠度/位移计是一种基于F-P技术测位移的传感器，是建立在微米/纳米技术基础上的21世纪前沿技术。 该传感器长期监测被测物位移量的变化，兼具“宽频”与“高精度”的特性，具有无源、宽温、微型化、抗电磁干扰和免维护特性，可长期精准测量，降低智慧运维系统复杂度和成本。

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