在芯片设计与制造日益复杂的今天，测试技术正面临前所未有的挑战。如何在保证测试精度的同时提升效率，成为整个半导体产业链关注的焦点。作为技术先锋，爱德万测试将于8月28日亮相西门子EDA Forum ...

在半导体产业迈向更高复杂度之际，测试技术正迎来前所未有的挑战。如何在保持测试精准度的同时，大幅度提升测试效率，已成为整个半导体产业链共同关注的焦点问题。作为行业的技术引领者，爱德万测试即将在2025年8月28日，于上海鲁能JW万豪侯爵酒店，参加西门子EDA Forum 2025，现场展示其前沿的测试技术与创新解决方案，旨在助力业界共同应对下一代智能芯片所带来的挑战。

本文主要介绍scan测试的基本原理和过程，试图让大家都能理解。 首先介绍scan测试的基本原理。 scan测试中两个最基本概念： 可控性 (control) 可观测性 (observe) scan设计的两个基本流程： 把普通寄存器替换成可扫描的寄存器 把可扫描的寄存器连成扫描链 如下图所示：左边是普通寄存器，右边是可扫描 ...

This new full-sized scan reveals the wreck in its entirety. Using submersibles, the deep-sea mapping company Magellan, and the documentary makers Atlantic Productions, have created an unprecedented 3D ...